用于痕量分析的热腔离子源磁-电双聚焦同位素质谱计

• 作者: 周国庆 张子斌 李志明 李雪松 王长海 粟永阳 翟利华 邓虎 韦冠一
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 工学
• 关键词: 热电离腔 离子源 质谱 探测效率 同位素丰度比
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 仪器装置与实验技术
• 页码范围: 1543-1548
• 分类号: TH843
• 字数: 4708字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1096.2011.01543

摘要

研制了一种管状热腔离子源并引入实验室自行研制的磁电双聚焦质谱系统中.离子源采用欧姆加热方式并可相对独立地控制样品蒸发和电离,因此在高效电离的同时保持了传统热表面电离质谱低本底特性.对该质谱系统痕量分析性能的初步测试表明:仪器对铀和钚的系统探测效率平均约为1％和6％；在跳峰计数法丰度比测试模式下,50 pg天然铀标样R235/238和0.1 pg钚标样(240P含量约10 fg)R2240-239的同位素分析的相对标准偏差小于1％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟利华		46	95	5.0	6.0
2	张子斌		28	48	3.0	5.0
3	韦冠一		35	40	3.0	3.0
4	李雪松		35	47	3.0	5.0
5	周国庆		33	136	7.0	10.0
6	李志明		37	75	4.0	5.0
7	邓虎		19	39	4.0	4.0
8	粟永阳		9	27	3.0	4.0
9	王长海		8	16	3.0	3.0