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摘要:
针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。
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文献信息
篇名 基于March C+改进算法的MBIST设计
来源期刊 电子科技 学科 工学
关键词 MBIST IC设计 March C+ Verilog HDL
年,卷(期) 2011,(10) 所属期刊栏目 协议·算法及仿真
研究方向 页码范围 67-70
页数 分类号 TN402
字数 2814字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-7820.2011.10.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 易茂祥 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 109 559 12.0 19.0
2 闫涛 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 2 10 1.0 2.0
3 申志飞 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 4 12 1.0 3.0
4 梅春雷 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 3 11 1.0 3.0
5 阳玉才 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 3 13 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
MBIST
IC设计
March
C+
Verilog
HDL
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技
月刊
1007-7820
61-1291/TN
大16开
西安电子科技大学
1987
chi
出版文献量(篇)
9344
总下载数(次)
32
总被引数(次)
31437
论文1v1指导