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自动测试设备加流测压及加压测流的设计
自动测试设备加流测压及加压测流的设计
作者:
伍广钟
吴文仕
崔华醒
谭永良
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路测试
电压电流源
加压测流
加流测压
箝位
摘要:
在集成电路的测试中,通常需要给测试的集成电路提稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;本系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.本系统具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测重精度高.
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文献信息
篇名
自动测试设备加流测压及加压测流的设计
来源期刊
电子技术
学科
工学
关键词
集成电路测试
电压电流源
加压测流
加流测压
箝位
年,卷(期)
2011,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
68-69
页数
分类号
TM93
字数
1888字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-0755.2011.01.027
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
谭永良
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伍广钟
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二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
集成电路测试
电压电流源
加压测流
加流测压
箝位
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子技术
主办单位:
上海市电子学会
上海市通信学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-0755
CN:
31-1323/TN
开本:
大16开
出版地:
上海市长宁区泉口路274号
邮发代号:
4-141
创刊时间:
1963
语种:
chi
出版文献量(篇)
5480
总下载数(次)
19
总被引数(次)
22245
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