日本电源插头的耐电痕化性能试验方法解读与应对

• 作者: 冯小军 刘耀先 陈金周
• 来源期刊: 家电科技
• 学科: 工学
• 关键词: 日本 插头 耐电痕化
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 研究
• 页码范围: 56-57
• 分类号: TM21
• 字数: 1847字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-0172.2011.09.022

摘要

本文介绍了日本电源插头的耐电痕化性能试验方法——JWDS 0028,并通过与IEC 60112《固体绝缘材料的耐电痕化指数和相对电痕化指数的测定方法》的比较分析,帮助读者更好地理解和应用该方法,也为日本插头生产企业提供一些应对建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈金周		11	3	1.0	1.0
2	冯小军		26	48	4.0	6.0
3	刘耀先		7	5	2.0	2.0