绝缘子污秽闪络的统计特性及风险评估

• 作者: 文习山 蒋日坤 蓝磊
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 泄漏电流 闪络概率 统计特性 输电线路 风险评估
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 1-7
• 分类号: TM216|TM855
• 字数: 5957字
• 语种: 中文

摘要

污秽绝缘子的泄漏电流是表征绝缘子表面状态的重要动态参数.污秽绝缘子泄漏电流特性以及基于泄漏电流特征量的污秽度预测、闪络风险评估一直是国内外相关领域学者研究的热点,但泄漏电流的统计特性和闪络风险的定量计算的研究很少.为此,在人工搭建的雾室内,对XP-160和LD-120绝缘子进行大量人工污秽试验,以泄漏电流幅值Im和闪络电压Uf为参量统计大量试验数据对污秽绝缘子的闪络风险做综合评估.结果表明:两种绝缘子泄漏电流幅值Im的概率分布类似正态分布,闪络电压值Uf的概率分布同样类似正态分布.最终综合了泄漏电流幅值Im和闪络电压值Uf对绝缘子污闪的影响,计算出线路绝缘子串污闪风险概率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蓝磊	武汉大学电气工程学院	106	1335	22.0	33.0
2	文习山	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	246	4981	39.0	56.0
4	蒋日坤	武汉大学电气工程学院	5	137	5.0	5.0