惠瑞捷可扩展测试机台系列降低新一代IC测试成本

• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 测试成本 可扩展 机台 Advantest IC Scale 高性价比 小尺寸
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 绿色质量观察
• 页码范围: 55-55
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

Advantest集团旗下企业惠瑞捷发布了业界首创可扩展、高性价比的测试机台系列，可用来测试28纳米及更小尺寸工艺和3D架构的芯片。Smart Scale系列是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台，与惠瑞捷久经大生产考验的V93000平台完全相容。