基于FPGA的NAND Flash ECC校验

• 作者: 吕小微
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: ECC校验 FPGA NAND Flash 读写控制器
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 图像·编码与软件
• 页码范围: 34-37
• 分类号: TN79
• 字数: 2360字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2011.06.012

摘要

基于Flash存储器的Hamming编码原理,在A1tera Quartus Ⅱ 7.0开发环境下,实现ECC校验功能.测试结果表明,该程序可实现每256 Byte数据生成3 Byte的ECC校验数据,能够检测出1 bit错误和2 bit错误,对于1bit错误还能找出其出错位置并予以纠正,可应用于NAND Flash读写控制器的FPGA设计,保证数据传输的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕小微	西安电子科技大学电子工程学院	1	19	1.0	1.0