PN结二极管散粒噪声测试方法研究

• 作者: 郑磊
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 散粒噪声 扩散电流 低温装置 PN结
• 年，卷（期）: 2011,（22）
• 所属期刊栏目: 元器件与应用
• 页码范围: 162-164
• 分类号: TN407-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.22.048

摘要

针对散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法.在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声充分低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统.应用该系统对PN结二极管进行散粒噪声测试,得到了很好的测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑磊	中国电子科技集团公司第二十研究所	10	14	2.0	3.0