Xilinx FPGA抗辐射设计技术研究

• 作者: 刘学斌 卫俊霞 段晓峰 石兴春 薛利军
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程逻辑门阵列 总剂量效应 单粒子翻转 单粒子闩锁 单粒子功能中断 单粒子烧毁 单粒子瞬态脉冲
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 电子技术研发
• 页码范围: 21-22,14
• 分类号: TN4
• 字数: 2752字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2011.06.009

摘要

针对Xilinx FPGA在航天应用中的可行性,文章分析了Xilinx FPGA的结构以及空间辐射效应对FPGA的影响,结合实际工程实践给出了提高其可靠性的一些有用办法和注意事项,如冗余设计、同步设计、自检等.表明配置信息的周期刷新和三模冗余设计是减轻单粒子效应的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘学斌	中国科学院西安光学精密机械研究所	48	347	9.0	16.0
2	段晓峰	中国科学院西安光学精密机械研究所	26	221	5.0	14.0
3	薛利军	中国科学院西安光学精密机械研究所	17	545	8.0	17.0
4	石兴春	中国科学院西安光学精密机械研究所	7	41	3.0	6.0
5	卫俊霞	中国科学院西安光学精密机械研究所	5	44	3.0	5.0