基圆盘与导轨间滑移对双盘式渐开线测量仪测量精度的影响

• 作者: 娄志峰 王晓东 王立鼎 马勇
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 双盘式渐开线测量仪 基圆盘 滑移
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 微纳技术与精密机械
• 页码范围: 2450-2456
• 分类号: TG86|TH71
• 字数: 3300字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20111910.2450

摘要

由于在双盘式渐开线测量仪中,基圆盘与导轨间的滑移是影响测量精度的重要因素,而有效控制轮轨间的摩擦力可解决基圆盘滑移,本文分别采用传动绳与传动带驱动基圆盘滚动,分析了在不同测量力情况下基圆盘与导轨间的摩擦力及其对滑移的影响.结果显示,当采用传动绳驱动测量力为0.7N及采用传动带驱动测量力为0.2N,基圆盘顺时针转动测量渐开线时,轮轨间的摩擦力分别为0.02 N与0.07 N,此时基圆盘滑移对渐开线测量影响可以忽略.另外,增加基圆盘组件的配重也能够有效减小基圆盘滑移,此时基圆盘顺时针与逆时针转动测得的渐开线齿形的差异为0.06 μm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马勇	大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室	50	317	9.0	15.0
2	王晓东	大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室	115	1141	19.0	28.0
3	王立鼎	大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室	130	1877	24.0	38.0
7	娄志峰	大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室	38	187	6.0	13.0