星载成像光谱仪杂散光测量与修正

• 作者: 吴清文 张军强 颜昌翔
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 成像光谱仪 杂散光 杂散光测量 点扩散函数
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 552-560
• 分类号: TP73
• 字数: 5390字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20111903.0552

摘要

分析了星载成像光谱仪杂散光的来源和危害,研究了杂散光对此类光谱仪光谱测量精度的影响.介绍了用点扩散函数描述成像光谱仪杂散光的原理,推导了杂散光影响矩阵和杂散光修正矩阵的求解,给出了杂散光测量和修正的具体方案,并对测量和修正精度进行了分析.实验表明,基于点扩散函数的矩阵法可实现成像光谱仪杂散光的测量和修正.像元中心波长入射时,修正后有效信号降低不足1%,杂散光信号降低至少99%;像元中心波长和非像元中心波长同时入射时,修正后像元中心波长处有效信号降低7%左右,非像元中心波长处有效信号降低25%左右,杂散光信号降低近50%.最后,从原理上解释了杂散光修正效果受入射光波长影响的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜昌翔	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	105	975	16.0	26.0
2	吴清文	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	115	1040	18.0	24.0