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摘要:
实时片上热信号是集成电路芯片动态热管理(DTM)的重要信息.提出了一种基于Voronoi图的非均匀采样重构芯片热信号的方法,该方法在16核的处理器上每核9个传感器的情况下给出了最小2.25%的平均误差,并且通过与距离倒数加权平均法的平均运行时间的对比验证了该种方法的优越性.
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文献信息
篇名 一种非均匀采样重构芯片热信号的方法
来源期刊 信息技术 学科 工学
关键词 非均匀采样 芯片热信号 Voronoi图
年,卷(期) 2011,(9) 所属期刊栏目 基金项目与博士论文
研究方向 页码范围 1-4
页数 分类号 TN911.23
字数 3450字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-2552.2011.09.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 戎蒙恬 上海交通大学电子信息与电气工程学院 229 1198 15.0 22.0
2 刘涛 上海交通大学电子信息与电气工程学院 127 676 13.0 19.0
3 李鑫 上海交通大学电子信息与电气工程学院 30 156 7.0 12.0
4 柯然 上海交通大学电子信息与电气工程学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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1991(1)
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研究主题发展历程
节点文献
非均匀采样
芯片热信号
Voronoi图
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术
月刊
1009-2552
23-1557/TN
大16开
哈尔滨市南岗区黄河路122号
14-36
1977
chi
出版文献量(篇)
11355
总下载数(次)
31
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