基于AOstar算法的最优诊断生成组件的设计与实现

• 作者: 刘震 杨兴霁 龙兵
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 最优诊断树 故障诊断 AO＊算法 启发函数
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TN407

摘要

最优诊断树是电子可测性设计与分析的重要研究内容，也是电子系统故障隔离的基础。针对国内对最优故障诊断树研究和应用的需求，介绍了采用启发式AO＊（AOstar）算法求解最优故障诊断树的方法，并将该算法封装实现为COM组件。与国外可测性分析软件TEAMS生成的诊断树结果对比分析，表明结果准确，组件易扩展，可以方便的嵌入到可测性设计与分析以及故障诊断软件之中。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘震	电子科技大学自动化工程学院	46	292	9.0	15.0
2	龙兵	电子科技大学自动化工程学院	69	1038	19.0	28.0
3	杨兴霁	电子科技大学自动化工程学院	4	26	2.0	4.0