基于PCAP的TD-LTE基站业务数据吞吐率测试技术

• 作者: 张能 李昊 闫书磊
• 来源期刊: 电信技术
• 学科: 工学
• 关键词: TD-LTE eNodeB MIT PCAP
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 特别报道：LTE技术与应用
• 页码范围: 44-48
• 分类号: TP334.7
• 字数: 1353字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1247.2011.08.016

摘要

首先讲述了TD-LTE MIT环境及基站业务数据吞吐率测试需求,其次分析比较了几种常规数据吞吐率测试方法,最后分析了利用PCAP进行MIT环境下,基站在承载多小区、多用户时的最高业务数据吞吐率测试技术。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张能		1	1	1.0	1.0
2	闫书磊		2	1	1.0	1.0
3	李昊		4	44	2.0	4.0