ICP-AES测定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al的含量

• 作者: 何素芳 刘春侠 单云 熊敏 罗永明 贺与平
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 微硅粉 钙 镁 铁 铝
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 822-825
• 分类号: O657.31
• 字数: 1465字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2011.02.081

摘要

微硅粉样品经氢氟酸、硝酸、高氯酸消解,电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)测定Ca、Mg、Fe、Al杂质元素含量.方法的回收率为:Ca 95.2 0A-100.3 %,Mg 96.2%-99.6%,Fe 95.8 %-97.2%,Al 98.6%-104.6%,精密度在1.50%-2.59%之间.本方法线性范围宽、分析效率高、具有良好的准确性和精密度,能快速准确地测定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al杂质元素的含量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘春侠	昆明理工大学分析测试研究中心	30	222	7.0	13.0
2	何素芳	昆明理工大学分析测试研究中心	15	566	6.0	15.0
3	单云	昆明理工大学分析测试研究中心	9	29	3.0	4.0
4	熊敏	昆明理工大学分析测试研究中心	9	29	3.0	4.0
5	贺与平	昆明理工大学分析测试研究中心	20	80	5.0	7.0
6	罗永明	昆明理工大学环境科学与工程学院	62	775	8.0	27.0