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摘要:
采用解析法对X光分幅相机中微通道板单孔内电子运动、碰壁和二次发射一系列过程进行了建模与求解,依托商业Lorentz-2D软件,得到了二次电子初能量分布、电子碰壁前能量分布、渡越时间分布等仿真曲线.实验测量了分幅相机的静态灵敏度曲线,与仿真结果对比分析表明:光电子首次碰撞深度是影响相机增益的重要因素,给出了修正后的增益与电压关系表达式,定性分析了工作偏压等参数对首次碰撞深度的影响.
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文献信息
篇名 基于解析法的X光分幅相机静态增益特性仿真
来源期刊 强激光与粒子束 学科 工学
关键词 惯性约束聚变 分幅相机 微通道板 静态增益 二次电子
年,卷(期) 2011,(8) 所属期刊栏目 粒子束技术
研究方向 页码范围 2205-2209
页数 分类号 TL816.1
字数 3175字 语种 中文
DOI 10.3788/HPLPB20112308.2205
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖沙里 重庆大学光电工程学院 123 988 14.0 24.0
2 刘慎业 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 113 323 9.0 11.0
3 杨志文 重庆大学光电工程学院 1 2 1.0 1.0
7 陈韬 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 14 39 4.0 5.0
8 袁铮 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 9 36 4.0 5.0
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研究主题发展历程
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分幅相机
微通道板
静态增益
二次电子
研究起点
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强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
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7
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61664
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