基于移频干扰的成像算法抗干扰性能分析

• 作者: 曹鹏 朱良 禹卫东
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 合成孔径雷达 移频干扰 成像算法 信干比 成像处理增益
• 年，卷（期）: 2011,（z1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 47-51
• 分类号: TN957.52
• 字数: 3670字
• 语种: 中文

摘要

本文针对RD和CS两种成像算法处理流程和方法的差异,分析了两种算法在移频干扰情况下的成像处理增益,并推导了两种算法的信干比处理增益公式.理论分析结果表明,在距离向采样率与SAR信号带宽相当的情况下,RD成像算法对移频干扰的抑制能力强于CS算法;在方位向过采样情况下,RD算法由于采用两维匹配处理从而获得比CS算法大的信干比处理增益,若对信号进行方位向滤波处理后,CS算法的对移频干扰的抗干扰能力与RD算法相当.最后,通过计算机仿真验证了本文的理论分析和结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	禹卫东	中国科学院电子学研究所	122	929	15.0	24.0
2	曹鹏		14	58	4.0	7.0