SOC技术与发展预测

• 作者: 闫瑾
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: SOC SOC验证 SOC总线 SOC仿真
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 188-190
• 分类号: TN98
• 字数: 3004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2011.09.059

摘要

随着集成电路的高速发展,SOC (System on Chip)技术已经成为当今的重要发展方向.总线的选择对于SOC来讲至关重要,通过对当今比较标准的coreconnect总线,AMBA总线,Wishbone总线以及OCP总线之间的比较,了解总线的特征.随着SOC集成度的增加,性能的提高,测试技术变的至关重要,重点介绍三种测试技术——基于扫描测试,边界扫描测试以及内建自测试技术.验证是SOC中最重要的环节,通过对验证方法的说明,预测今后SOC的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫瑾	黑龙江大学电子工程学院	4	19	1.0	4.0