基于确定性测试图形的BIST构建方法

• 作者: 刘晓芹 葛鹏岳 连光耀 黄考利
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 内建自测试 确定性测试图形 粒子群优化算法
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 803-805
• 分类号: TP273
• 语种: 中文

摘要

为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS'85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛鹏岳	军械工程学院军械技术研究所	4	22	2.0	4.0
2	黄考利	军械工程学院军械技术研究所	62	484	13.0	18.0
3	刘晓芹	军械工程学院军械技术研究所	18	118	7.0	10.0
4	连光耀	军械工程学院军械技术研究所	55	411	12.0	17.0