基于STM32的真彩色检测系统

• 作者: 崔振宇 王荣良 邢卓媛
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 真彩色 STM 液晶
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 嵌入式与SOC
• 页码范围: 96-98
• 分类号: TH741
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2011.08.041

摘要

本文介绍了以FPGA和ARM为硬件基础的真彩色检测系统.该方案针对在工业生产中,液晶显示设备的色彩显示质量难以检测的问题,旨在提出一种真彩色显示质量的检测方案,进而为工业化的测量提供了一个可量化的方法.系统中使用XILINX公司的XC3S200A N-5FTG256C作为FPGA的硬件来进行数据采集和累加平均计算,使用以ARM为核的STM32F103Z为微控制器来进行数据校正等工作.经试验表明,该系统运行稳定,测量准确度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邢卓媛	上海华东师范大学信息学院	1	1	1.0	1.0
2	崔振宇	上海华东师范大学信息学院	1	1	1.0	1.0
3	王荣良	上海华东师范大学信息学院	1	1	1.0	1.0