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摘要:
本文基于OH自由基所固有的分子结构特征,通过分子光谱理论系统地分析和计算了OH自由基A2∑+→X2∏r电子带系发射光谱的谱线跃迁频率、能级分布以及爱因斯坦自发发射跃迁概率等重要参数.同时结合实际的光谱实验,分析了谱线的自然展宽、碰撞展宽、多普勒展宽以及仪器展宽等各种展宽因索对谱线线型的影响,从理论上计算了任意转动温度、振动温度以及谱线展宽条件下OH自由基A2∑+→X2∏r电子带系发射光谱的强度分布,并分析了光谱强度分布与转动温度、振动温度以及谱线展宽的关系,为OH自由基A2∑+→X2∏r电子带系发射光谱测温技术提供理论依据.在实验过程中通过理论计算光谱与实验光谱进行拟合,对氢气燃烧火焰的转动温度和振动温度进行了初步的实验研究.
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文献信息
篇名 基于OH自由基A2∑+→X2∏r电子带系发射光谱的温度测量技术
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 发射光谱 转动温度 振动温度 自发发射爱因斯坦跃迁概率
年,卷(期) 2011,(5) 所属期刊栏目 原子和分子物理学
研究方向 页码范围 250-259
页数 分类号 O561.3
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜宗林 中国科学院力学研究所高温气体动力学重点实验室 85 496 13.0 19.0
2 杨乾锁 中国科学院力学研究所高温气体动力学重点实验室 14 99 4.0 9.0
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发射光谱
转动温度
振动温度
自发发射爱因斯坦跃迁概率
研究起点
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期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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