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考虑环境因素的软件可靠性增长模型
考虑环境因素的软件可靠性增长模型
作者:
雷航
韩炫
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
软件可靠性增长模型
M-O对数泊松时间模型
非齐次泊松过程模型
失效强度
环境因子
摘要:
软件可靠性增长模型中由于测试阶段和实际运行阶段环境的不同导致了失效强度函数的判断偏差.在Musa执行时间模型中的经典模型M-O对数泊松执行时间模型基础上,提出考虑环境因素的对数泊松模型,该模型能较好的刻画失效强度函数变化规律,并给出参数估计公式.通过对失效数据集的实验,结果表明该模型具有较好的拟合效果.
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文献信息
篇名
考虑环境因素的软件可靠性增长模型
来源期刊
计算机应用
学科
工学
关键词
软件可靠性增长模型
M-O对数泊松时间模型
非齐次泊松过程模型
失效强度
环境因子
年,卷(期)
2011,(7)
所属期刊栏目
计算机软件技术
研究方向
页码范围
1759-1761,1784
页数
分类号
TP311.5
字数
3815字
语种
中文
DOI
10.3724/SP.J.1087.2011.01759
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
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1
雷航
电子科技大学计算机科学与工程学院
92
1434
17.0
35.0
2
韩炫
电子科技大学计算机科学与工程学院
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M-O对数泊松时间模型
非齐次泊松过程模型
失效强度
环境因子
研究起点
研究来源
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研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
计算机应用
主办单位:
四川省计算机学会
中国科学院成都分院
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-9081
CN:
51-1307/TP
开本:
大16开
出版地:
成都237信箱
邮发代号:
62-110
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
20189
总下载数(次)
40
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