电子器件散粒噪声测试方法研究

• 作者: 何亮 包军林 孙鹏 庄奕琪 杜磊 王婷岚 陈华 陈文豪
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 散粒噪声 电子器件 噪声测试
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 159-166
• 分类号: TN911.4
• 语种: 中文

摘要

本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导一绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10 K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄奕琪	西安电子科技大学微电子学院	183	1168	15.0	22.0
2	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
3	何亮	西安电子科技大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
4	包军林	西安电子科技大学微电子学院	43	306	10.0	16.0
5	陈华	西安电子科技大学技术物理学院	17	68	5.0	8.0
6	陈文豪	西安电子科技大学技术物理学院	15	128	6.0	11.0
7	孙鹏	西安电子科技大学技术物理学院	16	70	4.0	8.0
8	王婷岚	西安电子科技大学技术物理学院	4	56	4.0	4.0