用于成品率分析芯片的LVS方法

• 作者: 严晓浪 史峥 申飞 藩伟伟
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 成品率分析芯片 形式验证 LVS技术 有序二叉判定图
• 年，卷（期）: 2011,（22）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 225-227
• 分类号: TP303
• 字数: 2980字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.22.075

摘要

研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS万法.该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题.将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证.实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史峥	浙江大学超大规模集成电路研究所	51	176	7.0	11.0
2	严晓浪	浙江大学超大规模集成电路研究所	246	1634	19.0	29.0
3	申飞	浙江大学超大规模集成电路研究所	1	0	0.0	0.0
4	藩伟伟	浙江大学超大规模集成电路研究所	1	0	0.0	0.0