GE检测控制技术亮相第十五届国际工业自动化与控制技术展览会

• 作者: 侯芳
• 来源期刊: 中国计量
• 学科: 工学
• 关键词: 技术展览会 工业自动化 控制技术 国际 十五 检测 GE 测试测量
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 信息篇
• 页码范围: 135-135
• 分类号: TP278
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9364.2011.08.078

摘要

GE检测控制技术在近日开幕的第十五届国际工业自动化与控制技术展览会暨第十五届中国国际传感器、测试测量展览会上展示了GE检测控制技术在传感、测试测量和自动化控制领域的优质产品、领先技术和全面解决方案。