基于FPGA的三模冗余容错技术研究

• 作者: 刘峥 张超 赵伟
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: TMR 容错 FPGA SEU 重构
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 167-171
• 分类号: TN4-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.05.051

摘要

基于SRAM的FPGA对于空间粒子辐射非常敏感,很容易产生软故障,所以对基于FPGA的电子系统采取容错措施以防止此类故障的出现是非常重要的.三模冗余(TMR)方法以其实现的简单性和效果的可靠性而被广泛用于时单粒子翻转(SEU)进行客错处理.但传统TMR方法存在系统硬件资源消耗较多且功耗较大等问题.总结了传统TMR方法存在的问题,分析了一些近年来出现的改进的TMR方法的优劣,针对其存在问题指出了改进策略,并展望了TMR技术的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘峥	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	102	847	16.0	24.0
2	张超	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	50	507	10.0	21.0
3	赵伟	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	17	105	6.0	9.0