利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

• 作者: 刘晓旭 卜文斌 吴忠华 殷景华 程伟东 范勇
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 小角X射线散射 纳米杂化 聚酰亚胺 界面
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、力学和热学性质
• 页码范围: 511-516
• 分类号: O484
• 语种: 中文

摘要

采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明:散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54 nm到1.48 nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低,表面分形维数升高,即纳米颗粒结构变疏松、质量分布变得不均匀,有机高分子链对无机纳米颗粒锚定作用加强且锚点数增加,表面变得更加粗糙.最后,利用逾渗理论与介质的电极化理论,结合杂化PI界面特性,解析了组分对杂化薄膜击穿场强的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范勇	哈尔滨理工大学应用科学学院	70	539	13.0	18.0
2	殷景华	哈尔滨理工大学应用科学学院	74	301	9.0	12.0
4	吴忠华	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	34	146	8.0	10.0
5	刘晓旭	哈尔滨理工大学应用科学学院	4	30	3.0	4.0
11	程伟东	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	2	17	2.0	2.0
12	卜文斌	哈尔滨理工大学应用科学学院	1	13	1.0	1.0