5,7-双羟色胺损毁大鼠中缝背核对内侧前额叶皮层锥体神经元电活动的影响

• 作者: 曾文 王湘 王爽 苏兴利 郭玉芳 霍健 高捷
• 来源期刊: 陕西医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 5,7-二羟色胺 额叶前皮层 锥体细胞 电生理学过程
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 656-657,663
• 分类号: R338.2
• 字数: 2530字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7377.2011.06.005

摘要

目的:研究5,7-双羟色胺(5,7-DHT)损毁大鼠中缝背核后内侧前额叶皮层(mPFC)中锥体神经元放电频率和放电形式的变化.方法:应用在体细胞外电生理学记录的方法,观察5,7-双羟色胺损毁大鼠中缝背核后,mPFC锥体神经元自发电活动的变化.结果:实验组大鼠锥体神经元的放电频率显著升高(P＜0.001),使其从0.52±0.10Hz升至1.25±0.20Hz,放电形式趋向爆发(P＜0.001).结论:脑内5-HT递质系统对内侧前额叶皮层锥体神经元的电活动有显著影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾文	西安市中心医院普外科	13	33	3.0	5.0
2	王爽	西安医学院病理生理学教研室	43	104	5.0	8.0
3	苏兴利	西安医学院病理生理学教研室	33	105	5.0	8.0
4	郭玉芳	西安医学院病理生理学教研室	25	55	4.0	6.0
5	王湘	西安医学院病理生理学教研室	26	54	4.0	6.0
6	高捷		6	11	2.0	3.0
7	霍健	西安医学院病理生理学教研室	32	86	5.0	8.0