面向光学薄膜瑕疵检测的二值图像快速Blob分析算法

• 作者: 胡广华
• 来源期刊: 计算机应用
• 学科: 工学
• 关键词: Blob分析 游程 瑕疵检测 光学薄膜
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 图形图像技术
• 页码范围: 2767-2769
• 分类号: TP391.41|TN911.73
• 字数: 3639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1087.2011.02767

摘要

针对光学薄膜瑕疵检测应用中的高实时性图像处理要求,提出一种基于游程的二值图像快速Blob分析算法.采用步进式动态扫描方式,每个游程仅需扫描一次,且不必与相邻行的所有游程进行比较,算法的搜索空间得到压缩；游程连通性比较的分支少,简化了判断过程,提高了操作效率；所设计的游程及目标对象的数据结构允许由任一游程节点快速访问其所属链表的首部和尾部,不仅为后续的数据访问提供了便利,且提高了标记冲突时链表合并的操作速度,避免了冲突等价表的介入.实验结果表明该算法具有鲁棒、高效的特性,并已在光学薄膜瑕疵检测系统中得到了应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡广华	华南理工大学机械与汽车工程学院	11	45	3.0	6.0