建立在模拟集成电路上的边界扫描设计

• 作者: 冯长江 李晓峰 毛博
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 模拟芯片 边界扫描 TAP控制器 性能测试
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 2814-2817
• 分类号: TP212
• 语种: 中文

摘要

对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究,结合IEEEl149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测试电路,运用了数字移位寄存器和模拟开关构成模拟边界扫描单元,并编写了TAP控制器及其它电路的VHDL代码,通过实验仿真验证了测试电路的可行性.测试电路可以完成模拟芯片的简单互连测试以及性能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯长江		33	209	8.0	13.0
2	李晓峰		5	13	3.0	3.0
3	毛博		2	2	1.0	1.0