基于LabVIEW的集成电路测试分析仪

• 作者: 王帅
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 集成电路测试 LabVIEW SN754410 USB/串口转换电路
• 年，卷（期）: 2011,（18）
• 所属期刊栏目: 电子测量与仪器
• 页码范围: 158-160,164
• 分类号: TN919.72-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.18.048

摘要

为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪.与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能.设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信.实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王帅	湖南怀化学院物理与信息工程系	7	26	3.0	5.0