基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统

• 作者: 孙名伟 张荣学 陈洪财
• 来源期刊: 电视技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光干涉 液晶盒厚 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2011,（22）
• 所属期刊栏目: 标准、检测与仪器
• 页码范围: 92-94
• 分类号: TN949|O438.1
• 字数: 1898字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8692.2011.22.028

摘要

在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性.从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02％以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈洪财		24	43	4.0	4.0
2	张荣学		2	2	1.0	1.0
3	孙名伟		2	2	1.0	1.0