电子产品通用生产测试系统实现原理

• 作者: 李登希
• 来源期刊: 企业技术开发：下
• 学科: 工学
• 关键词: ICT 回环 功能测试
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 页码范围: 120-121,129
• 分类号: TP274
• 字数: 2083字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8937.2011.10.071

摘要

电子产品在制造系统常用的检验方法主要有ICT，信号回环测试，功能测试。上述各种的测试方法各有优缺点．适合不同的制造规模的生产企业采用。文章介绍了将ICT、信号回环测试、功能测试三者测试方法结合起来的一种通用的生产测试系统的实现原理。

作者信息

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1	李登希		2	0	0.0	0.0