基于边界扫描的单片机系统RAM芯片测试研究

• 作者: 周银 王晋阳 王蒙蒙 陈圣俭 高华
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: RAM 边界扫描 故障诊断
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2655-2657
• 分类号: TP303
• 语种: 中文

摘要

存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中；在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定；为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的；在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证；实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周银		8	28	4.0	4.0
2	陈圣俭		49	228	9.0	12.0
3	王蒙蒙		5	19	3.0	4.0
4	王晋阳		3	13	2.0	3.0
5	高华		6	14	2.0	3.0