复合缺陷型电磁带隙谐振腔

• 作者: 孙小菡 柏宁丰 洪玮
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 电磁带隙 复合缺陷 谐振腔 单模
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 物理学交叉学科及有关科学技术领域
• 页码范围: 749-755
• 分类号: O483
• 语种: 中文

摘要

提出了一种复合缺陷型电磁带隙(EBG)谐振腔,通过对该EBG结构的带隙分析,指出该谐振腔可在大尺寸下实现单模工作,提供更大的容差空间,且具有高Q值.数值模拟结果表明,基于复合缺陷EBG结构构成的谐振腔,单模工作条件可以放宽到外圈金属柱直径与周期之比为0.6,内圈金属柱直径与周期比为0.9;而传统中心缺陷型EBG结构的小于0.3.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙小菡	东南大学电子器件与系统可靠性研究中心	214	1113	17.0	23.0
2	柏宁丰	东南大学电子器件与系统可靠性研究中心	15	28	3.0	5.0
3	洪玮	东南大学电子器件与系统可靠性研究中心	2	1	1.0	1.0