粉末压片法对X荧光测定铬和钴的影响

• 作者: 张军 曾宇斌 郑淑华
• 来源期刊: 广州化工
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光粉末压片法 土壤样品 铬 钴
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 101-102,118
• 分类号: O614.341
• 字数: 2348字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9677.2011.11.035

摘要

分别运用X射线荧光光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法,对土壤样品中的Cr和Co进行含量分析检测.通过比较,讨论了在使用粉末压片法制样时,对X射线荧光光谱法测定土壤样品中微量Cr和Co所带来的影响以及应注意的问题,为提高测定微量Cr和Co的准确度提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张军		4	30	2.0	4.0
2	曾宇斌		6	14	2.0	3.0
3	郑淑华		6	12	2.0	3.0