基于IDDT的数字电路故障诊断研究

• 作者: 余长庚 赖丽萍
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电阻性开路故障 瞬态电流IDDT 小波分析 数字电路
• 年，卷（期）: 2011,（13）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 179-182
• 分类号: TN79-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.13.053

摘要

数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障.开路故障不会立即引起电路的功能性故障,但它会引起延时性故障,并且不能用电压的方法来探测.针对数字电路中的电阻性开路故障,采用了数字电路的瞬态电流IDDT测试和利用小波技术的定位方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余长庚		14	11	2.0	2.0
2	赖丽萍		5	7	2.0	2.0