无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究

• 作者: 杨跃胜 武岳山 熊立志 颜元
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 灵敏度 RFID UHF 标签芯片 IC
• 年，卷（期）: 2011,（22）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计
• 页码范围: 182-184
• 分类号: TN492-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.22.054

摘要

提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法.该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性,利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数,然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗,进而计算标签芯片的灵敏度.利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,并将测试结果与datasheet进行对照,分析误差产生的原因,最终证明此方法的准确性.该测试方法采用常规仪器对800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试,有重要实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武岳山	西北大学信息科学与技术学院	27	290	9.0	16.0
5	杨跃胜	西北大学信息科学与技术学院	13	29	3.0	4.0
7	熊立志		12	96	6.0	9.0
8	颜元	西北大学信息科学与技术学院	3	19	3.0	3.0