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摘要:
介绍了一种新的求解点阵参数的方法——不涉及结构的谱峰拟合方法.该方法适用于单一物相或多个物相衍射谱中某一物相点阵参数的直接求解,可以避免外推函数的不同选择而造成的差异,且快速准确.根据此方法编写的应用程序已在实际工作中得到应用.程序中还包括了调整样品表面离轴偏差和零度偏差以提高拟合精确度的功能.
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内容分析
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文献信息
篇名 X射线衍射多相谱中某一物相点阵参数的直接求解方法
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 X射线衍射 谱峰拟合 点阵参数
年,卷(期) 2011,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 462-466
页数 分类号 O712
字数 4207字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陶琨 清华大学材料科学与工程研究院中心实验室 11 51 4.0 7.0
2 徐晓明 清华大学材料科学与工程研究院中心实验室 6 5 1.0 2.0
3 苗伟 清华大学材料科学与工程研究院中心实验室 8 25 3.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
X射线衍射
谱峰拟合
点阵参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
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35
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174683
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