多径相关衰落下影响LTE系统容量因素分析

• 作者: 王军选
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: LTE 多径衰落 SVD分解 信道估计误差
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 无线通信
• 页码范围: 28-30
• 分类号: TN929.533-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.03.010

摘要

对相关衰落下,影响基于MIMO-OFDM技术的LTE系统容量的天线相关性、信道估计等参数进行了研究.基于矩阵的SVD分解,分析了收发端天线存在相关和信道估计误差情况下对系统容量的影响.并进行了相应的蒙特卡罗仿真.仿真结果表明,天线的相关性对系统容量的影响较大,随着信道估计误差的增加,系统容量有明显的下降.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王军选	西安邮电学院通信与信息工程学院	49	196	6.0	13.0