基于接口参数的列控中心测试用例生成算法

• 作者: 喻钢 张盛 徐中伟 杨世玉
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 软件测试 黑盒测试 列控中心 树型模型 测试用例
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 69-71
• 分类号: TP311.52
• 字数: 3994字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.01.024

摘要

在接口参数两两组合全面覆盖理论的基础上,提出一种基于树型结构的改进测试用例生成算法.该算法综合考虑外部接口参数和取值组合所产生的系统影响,具有一定的通用性及稳定性,并且在时间复杂度及空间复杂度上较以往的算法都有所改进.算法在CTCS2级列控中心的接口测试中取得了很好的效果,测试质量和测试效举均得到提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐中伟	同济大学电子与信息工程学院	95	644	13.0	20.0
2	喻钢	同济大学电子与信息工程学院	13	73	5.0	8.0
3	杨世玉	同济大学电子与信息工程学院	3	16	2.0	3.0
4	张盛	同济大学电子与信息工程学院	2	9	2.0	2.0