基于折叠重排的低功耗BIST技术研究

• 作者: 刘建军 詹琰 谈恩民
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 内建自测试(BIST) 约翰逊折叠计数器 线性反馈移位寄存器 低功耗
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 2583-2585
• 分类号: TP39l
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2011.07.051

摘要

为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器.这种技术首先对确定测试矢量进行编码得到LFSR矢量种子,然后对LFSR种子解码、重排得到新的测试矢量.通过ISCAS85实验结果表明,该技术能够改善测试矢量之间的线性相关性,大量减少测试矢量之间的跳变,达到降低功耗的目的.重点介绍了双重编码种子的方法和数据结果分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	詹琰	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	0	0.0	0.0
3	刘建军	集美大学信息工程学院	2	0	0.0	0.0