一种改进的对抗软错误电路结构设计

• 作者: 于东英 曾泽嵘 甘智勇 聂永峰 陈梦远
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: SEU 检测和纠正 时钟沿 FPGA 触发器
• 年，卷（期）: 2011,（24）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计
• 页码范围: 184-187
• 分类号: TN710-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.24.056

摘要

给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转( SEU)引起的数据错误.简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误.采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响.改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于东英		3	12	3.0	3.0
2	聂永峰		4	24	3.0	4.0
3	曾泽嵘		1	3	1.0	1.0
4	甘智勇		1	3	1.0	1.0
5	陈梦远		1	3	1.0	1.0