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摘要:
从能带结构和态密度分析了黄铜矿CuAlS2的电子结构.对比未掺杂CuAlS2,从晶体结构、电子结构、电荷密度分布讨论了Mg和Zn替位Al掺杂对CuAlS2的影响.结果表明:Mg和Zn掺杂CuAlS2都导致晶格常数增大,Mg掺杂晶胞体积增大更多;掺杂在价带顶引入受主态,形成p型电导;Mg掺杂比Zn掺杂的受主能级电离能略小;而Zn掺杂CuAlS2体系总能更低,晶格结构更稳定.
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文献信息
篇名 Mg和Zn掺杂CuAlS2电子结构的分析
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 CuAlS2 p型掺杂 电子结构 能带结构
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 604-609
页数 分类号 O469
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姚若河 华南理工大学电子与信息学院 126 611 11.0 18.0
2 耿魁伟 华南理工大学电子与信息学院 10 39 3.0 6.0
3 万文坚 华南理工大学电子与信息学院 1 2 1.0 1.0
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CuAlS2
p型掺杂
电子结构
能带结构
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物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
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