电路系统中的闩锁效应及其预防设计

• 作者: 吴允平 李汪彪 苏伟达 蔡声镇
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 闩锁效应 上电时序 光耦 热插拔
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 170-172
• 分类号: TN702-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.01.053

摘要

针对CMOs集成电路的闩锁效应,围绕实际应用的电路系统中易发生闩锁效应的几个方面进行了详细说明,提出了采用严格的上电时序、基于光耦的电路隔离设计和热插拔模块的接口方法,可以有效地降低发生闩锁效应的概率,从而提高电路系统的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴允平	福建师范大学电子信息工程系	75	550	13.0	20.0
2	蔡声镇	福建师范大学软件学院	73	596	13.0	20.0
3	苏伟达	福建师范大学电子信息工程系	54	354	10.0	16.0
4	李汪彪	福建师范大学电子信息工程系	44	244	9.0	14.0