休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析

• 作者: 崔健 朱敏 罗积润 郭炜
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 休斯结构多间隙耦合腔 耦合系数 电子注电导 稳定性
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 基本粒子物理学与场
• 页码范围: 199-207
• 分类号: TN122
• 语种: 中文

摘要

基于空间电荷波理论,导出了N间隙休斯结构耦合腔中注-波耦合系数和电子注电导计算公式,通过计算耦合腔中电子注的品质因数来分析电路的稳定性.研究表明,随着间隙数目N的增加,工作模式(2π模)稳定性对直流工作电压更加敏感,同时其他寄生模式的抑制会愈加困难.以三间隙休斯结构耦合腔为例,通过合理选择工作电压,2π模可以稳定工作,通常靠近2π模的π/2模可能更容易引发自激振荡.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗积润	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	72	330	11.0	13.0
2	朱敏	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	97	592	12.0	20.0
3	崔健	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	8	36	3.0	6.0
7	郭炜	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	12	30	3.0	4.0