针对高级加密标准算法的光故障注入攻击

• 作者: 宋凯 张阳 王红胜 陈开颜
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光故障注入 紫外线照射 旁路攻击 高级加密标准 非易失性存储器
• 年，卷（期）: 2011,（21）
• 所属期刊栏目: 安全技术
• 页码范围: 97-99
• 分类号: TP393
• 字数: 3067字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.21.033

摘要

为获取芯片的秘密信息,针对其中的高级加密标准(AES)算法,提出一种光故障注入攻击方法.通过对开封后的微控制器进行紫外线照射,证明非易失性存储器内容能被紫外线擦除,并找出照射时间与擦除率间的关系.在AT89C52微控制器芯片上,对AES-128密码算法中的S-box进行光故障注入攻击,改变存储器单元的逻辑状态,以成功获取密钥.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红胜	军械工程学院计算机工程系	28	121	7.0	10.0
2	陈开颜	军械工程学院计算机工程系	61	247	8.0	11.0
3	张阳	军械工程学院计算机工程系	45	177	8.0	10.0
4	宋凯	军械工程学院计算机工程系	2	8	2.0	2.0