饱和受潮条件下灰密对泄漏电流影响的初步研究

• 作者: 武铁根
• 来源期刊: 科学之友
• 关键词: 绝缘子 表面污秽 泄漏电流 饱和受潮 灰密
• 年，卷（期）: 2011,（29）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 21-23
• 分类号: TM852
• 语种: 中文

摘要

文章采用固体层法,特别是在高湿饱和受潮条件下,对单片绝缘子(XWP2-70)进行了人工污秽试验的研究,主要分析了不同灰密下泄漏电流有效值、泄漏电流脉冲数、累积放电量、三次谐波幅值与基波比值等4个泄漏电流特征量的变化规律.