集成电路测试生成算法综述

• 作者: 孙健
• 来源期刊: 城市建设理论研究（电子版）
• 关键词: 集成电路 测试生成算法
• 年，卷（期）: 2011,（31）
• 所属期刊栏目: 科技与建筑
• 字数: 2645字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路芯片向深亚微米、特大规模集成电路和高密度方向发展，进行测试所需要的成本也越来越高，因此寻找计算量合理、故障覆盖率较高的测试生成算法已成为电路测试领域十分重要的研究课题。本文对目前电路测试生成算法做了一些介绍。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙健		18	176	6.0	13.0