微电机匝间耐压故障因素的深入探讨

• 作者: 俞翔
• 来源期刊: 科技与生活
• 学科: 工学
• 关键词: 微电机 匝间耐压 绝缘结构 切伤
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 应用方法论
• 页码范围: 101-101,103
• 分类号: TM
• 字数: 3450字
• 语种: 中文

摘要

由于电机本身的质量问题及在使用中长时间过载或过热运行,绕组绝缘老化加速,绝缘最薄弱点碳化引起匝间短路使绕组局部烧毁

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞翔		3	0	0.0	0.0